用途场景
研发
实验室研发、新产品开发、技术研究
生产
生产线检测、工艺控制、制造过程监控
品控
质量检验、来料检测、成品测试
合规认证
计量检测、仪器校准、精度验证
教学实训
教学实验、技能培训、实训演示
维修
设备维修、故障诊断、维护保养
规格型号价格
规格参数
产品特色
- 最大封装尺寸：3 mm × 3 mm – 45 mm × 45 mm
- 选配项目：
- 3 mm × 3 mm – 55 mm × 55 mm
- 3 mm × 3 mm – 70 mm × 70 mm
- 选配项目：
- 稳定可靠的高速取放式分选机
- 同步双吸嘴取放设计
- 空气阻尼器确保接触平衡
- 装置防护功能（卡料 / 余料检测、测试座温度控制）
- 智能良率优化系统
- 支持堆栈封装（PoP）测试方案
- 整合射频（RF）测试能力
- 通用转换治具设计
选配项
- 兼容三温测试：-40 °C 至 150 °C，具快速温度反馈系统
- 高功率 PTC 模块：450 W热负载下Device温度维持低于80 °C
产品介绍
Chroma 3260 Full Range ATC系统级测试（SLT）分选机具备坚固的六站式架构，支持-40 °C至150 °C的三温测试，冷却能力高达1,800 W。搭载三温Sea Cobra-E Gen 1热引擎，可提供TSD功能，实现精确的T-junction监控以及快速、实时的温度回馈。
该系统亦可搭载高功率PTC模块，在高达450W的热负载下，仍能将装置温度维持于80 °C以下。3260三温SLT测试分选机提供灵活的测试模式，不仅可同时进行多站测试，亦能针对不同测试站设定独立的温度条件。根据不同应用情境，可快速切换温度条件，有效缩短等待时间。针对如PoP及RF测试等进阶测试场景所优化，3260可在严苛的热环境中提供高速、可靠且一致的测试效能。
▲ 温度切换时间
型号规格
| 型号 | 规格说明 |
|---|---|
| 3260 | 三温系统级测试机 |
